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11号 特集:電子部品信頼性


Opiion
寄稿記事   寄稿記事『品質保証のための電子部品の信頼性試験』
 

 日本信頼性学会信頼性試験研究会の活動成果として、「電子部品の信頼性試験ガイドライン」(2009.3)を発行しています。電子機器へ搭載される電子部品に対して、機器の市場出荷後の目標品質を達成できるように、搭載環境や使用条件へ適合する信頼性を有することを、電子機器の開発・設計段階で調べておく必要があります。このための信頼性試験を効率的且つ効果的に進める手順について解説しています。目標品質を達成するための信頼性試験の進め方として、本ガイドラインにまとめた内容を紹介します。



Technology Trends
『IEC/JIS規格に対応した温(湿)度試験槽の性能試験方法及び性能表示方法』



 温(湿)度試験槽の性能について、各メーカーあるいは、各ユーザーが独自の方法や表示を使うと、どの性能がいいのか、悪いのか判断がつかなくなります。 そのため日本試験機工業会(日本語略称: 日試工、英語略称:JTM)が制定したJTM規格が、長い間使われてきました。2006年に国際規格IEC及び日本工業規格JISとして、温(湿)度試験槽の性能について規格が制定され、JTM規格もIEC/JIS規格に整合のため大きく変わりました。温(湿)度試験槽の性能試験方法及び性能表示方法の主な変更点について解説します。

 

  技術解説・動向


  イベント紹介

信頼性試験関係のイベントをご紹介しています。

(講演予定のタイトルは変わることがあります)
■エスペック信頼性セミナー2011を開催いたしました。
多数のご参加をいただきまして、ありがとうございます。
皆様よりご好評いただいております。 
報告を掲載しておりますので、ご覧ください。
<日程・場所>
 2011年11月18日(金) 大阪〔味覚糖UHA館〕
 2011年11月21日(月) 愛知〔刈谷市総合文化センター アイリス〕
 2011年12月 8日(木) 東京〔秋葉原UDX GALLERY NEXT〕
   
【1月開催】 
■第29回エレクトロテスト・ジャパン
会期:2012年1月18日(水)〜20日(金)
会場:東京ビッグサイト

事務局URL:http://www.electrotest.jp/
出展製品:イオンマイグレーション評価システム等


【2月・3月開催】 
■第3回国際二次電池展
会期:2012年2月29日(水)〜3月2日(金)
会場:東京ビッグサイト
事務局URL:http://www.batteryjapan.jp/
出展製品:二次電池充放電サイクル評価システム等



  おすすめの技術書
 
失敗学と創造学 -守りから攻めの品質保証へ- 著者 濱口哲也
 
 

本書は品質を確保するために失敗経験から何を学びとり、如何に創造性ある成果につなげるかを分かりやすい事例に基づき述べられています。未然防止に関しても多くのページをさき、さらに高信頼性や負荷増加の加速試験など試験法に関して実態に即した評価の在り方を提案しています。後半は品質保証の発展として創造的な発想法が紹介されています。要求機能と思考展開図による製品・技術の差別化など、開発設計者にとっても共感性のあるテーマと言えます。失敗学の畑村洋太郎氏推薦の著でもあります。


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