Test Navi 通信

Test Navi 通信 59

Test Navi 通信 58

Test Navi 通信 57

Test Navi 通信 56

Test Navi 通信 55

Test Navi 通信 54

Test Navi 通信 53

Test Navi 通信 52

Test Navi 通信 51

Test Navi 通信 50

Test Navi 通信 49

Test Navi 通信 48

Test Navi 通信 47号

Test Navi 通信 46号

Test Navi 通信 45号

Test Navi 通信 44号

Test Navi 通信 43号

Test Navi 通信 42号

Test Navi 通信 41号

Test Navi 通信 40号

Test Navi 通信 39号

Test Navi 通信 38号

Test Navi 通信 37号

Test Navi 通信 36号

Test Navi 通信 35号

Test Navi 通信 34号

Test Navi 通信 33号

Test Navi 通信 32号

Test Navi 通信 31号

Test Navi 通信 30号

Test Navi 通信 29号

Test Navi 通信 28号

Test Navi 通信 27号

Test Navi 通信 26号

Test Navi 通信 25号

Test Navi 通信 24号

Test Navi 通信 23号

Test Navi 通信 22号

Test Navi 通信 21号

Test Navi 通信 20号

Test Navi 通信 19号

Test Navi 通信 18号

Test Navi 通信 17号

Test Navi 通信 16号

Test Navi 通信 15号

Test Navi 通信 14号

Test Navi 通信 13号

Test Navi 通信 12号

Test Navi 通信 11号

Test Navi 通信 10号

Test Navi 通信 9号

Test Navi 通信 8号

Test Navi 通信 7号

Test Navi 通信 6号

Test Navi 通信 5号

Test Navi 通信 4号

Test Navi 通信 3号

Test Navi 通信 2号

Test Navi 通信 創刊号


5号 特集:製品安全と未然防止


Opiion
寄稿記事   シリコーンによる接点接触障害現象
  森井 真喜人氏  エレクトロニック&メカニカルコンポーネンツビジネスカンパニー エンジニアリングセンタ

 金属の接点を用いたリレーやスイッチなどの電気接点機器は、接点に絶縁物が付着することで接触信頼性が低下する。近頃、接点上にシリコン化合物が付着することで電気接点が接触不良を生じる現象が増加している。 シリコンによる電気接点の接触不良は、過去多くの検討がなされており、接点間アークなどのエネルギーによって有機シリコン(シリコーンsilicone)分子が分解され、酸化シリコンとして接点上に堆積することで接触障害を引き起こす現象が解明されている。 電気接点を取り扱う際の注意事項として、有機シリコンは接点機器周辺から排除することが求められている。 しかし、シリコーンの汎用性の高さや有効性から使用範囲は拡大しており、それを接点機器周辺から排除することは非常に困難である。 特に自動車や、家電業界では使用環境が特定できないことや、使用条件が多岐にわたることから、多くのトラブルが発生しており、また今後発生が予測される。 ここではシリコーンによる接点接触障害現象のアウトラインと、その評価方法を紹介する。



筆者 プロフィール
森井 真喜人
所属 オムロン株式会社 エレクトロニック&メカニカルコンポーネンツビジネスカンパニー エンジニアリングセンタ
研究歴 スイッチ リレーの接触信頼性の研究


技術解説   Technology Trends
『製品事故に繋がる故障メカニズムと信頼性試験』

 

(独)製品評価技術基盤機構で報告されている事故情報より、パート1で、樹脂(ゴム)材料、およびパート2でモータ・トランスを搭載した製品に関する実際に重大事故に繋がった事例をもとに、その発生メカニズムについて調査し、また事故発生メカニズムから市場故障を顕在化させる信頼性試験の考え方について紹介します。
Part1 モータ・トランス   →

Part2 樹脂(ゴム)材料   →

新製品紹介

シリコーンから発生するシロキサンに対して評価を行うために、必要な濃度を安定し、かつ均一な雰囲気な濃度を再現できる新しい耐久評価装置をご紹介いたします。 シロキサン耐久試験器
<シロキサン耐久試験器> 均一な濃度、長時間試験をランニングコストも低く抑えることが可能な装置を提案しています。世界初の評価試験装置です。

・機種など詳細については…


  イベント紹介

信頼性試験関係のイベントをご紹介しています。

(講演予定のタイトルは変わることがあります)
●5月
 <発表>弊社より発表しました
    日本信頼性学会 第18回春季信頼性シンポジウム
    主催:日本信頼性学会
    日程:2010年5月28日(金)
    場所:日本科学技術連盟 千駄ヶ谷本部ビル
    論文名「前兆現象による故障の発生予測」
    発表者:エスペック株式会社 開発本部 青木雄一 (関西支部 信頼性試験研究会)
 
●6月
 <発表>弊社より発表しました
    再生可能エネルギー2010国際会議 (Renewable Energy 2010)
    主催:再生可能エネルギー2010国際会議組織委員会
    ポスターセッション 「MODULE PERFORMANCE DEGRADATION WITH RAPID THERMAL-CYCLING」
    発表者 :青木 雄一1,岡本 学1,増田 淳2,土井 卓也2
        1 エスペック株式会社  2 産業技術総合研究所    
    日程:2010年6月27(日)〜7月2日(金)
    場所 パシフィコ横浜

 <セミナー>弊社より講演しました
   PVジャパン2010専門セミナー
   主催:太陽光発電協会、semi
   講演「太陽電池モジュール用環境試験装置の動向」
   講演者 エスペック株式会社 カスタムSE部 瀬川荘司
   日程:2010年6月27(日)〜7月2日(金)
   場所 パシフィコ横浜
            
●8月 
 <報告会>弊社が参画中の共同開発の成果報告会があります。
   産業技術総合研究所 太陽光発電研究センタ成果報告会
   ポスターセッション 『急速温度サイクル試験による結晶系太陽電池モジュールの劣化加速検討』
   講演者 エスペック株式会社 開発本部 青木雄一  
   日程: 2010年8月9日(月)〜 8月10日(火)
   場所 「つくば国際会議場」 大ホール
 
●9月 
  <展示会>弊社より出展します
      科学機器展2010 ・ 分析展2010
      出展製品(予定):冷熱衝撃装置 Eタイプ、ワイドビュー恒温恒湿器 エコモデル、ライトスペックなど
   日程: 9月1日(水)〜3日(金) 
      場所:幕張メッセ ホール5 5A-201
    http://www.jaimasis.jp/2010/index.html

  <発表>弊社より発表します
   2010年秋季 第71回 応用物理学会学術講演会
   論文名 『急速温度サイクル試験による結晶系太陽電池モジュールの劣化加速検討』
   発表者 青木 雄一1,岡本 学1,増田 淳2,土井 卓也2
      1 エスペック株式会社  2 産業技術総合研究所   
   日程: 2010年9月14日(火)〜17日(金)
   場所: 長崎大学文教キャンパス
    http://www.jsap.or.jp/activities/annualmeetings/index.html

  <講演>弊社より講演します
   高分子学会 接着と塗装研究会 
   主題:接着と塗装技術のエネルギー分野、環境分野への新展開
   講演 『太陽電池モジュールと構成材料の信頼性試験』
   講演者 エスペック株式会社 開発本部 棚橋紀悟
    日程:2010年9月10日(金)
    場所:すみだ産業会館 会議室1.2
   http://www.spsj.or.jp/c12/gyoji/adhesion.html




  おすすめの技術書
 
『信頼性七つ道具』 著者 CARE研究会 , 鈴木 和幸 , 信頼性技術叢書編集委員会
 
  1980年代以降、信頼性工学専門書が久しく途絶えています。しかしものづくりにおける経営環境は変化し、信頼性のニーズは高まっています。本書は21世紀の視点で再構築し、信頼性技術について深く掘り下げた専門書であると同時に、平易に理解できる教育啓蒙図書としても活用いただけます。著者らが考える信頼性七つ道具(R7)を体系的なパッケージとし、その使い方の流れを信頼性ストーリーとして提唱しています。

会員登録のご案内※コンテンツの詳細をご覧いただくためには、会員登録の上、ログインが必要です。(登録無料)