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Test Navi 通信 創刊号


2号特集:加速試験方法


技術解説   Technology Trends
「種々のめっきを施した鉛フリー半導体パッケージのはんだ付け実装におけるウィスカ評価

  鈴木聡 技術開発本部 エスペック株式会社

電子機器の鉛フリー化により、半導体リードフレームから発生するウィスカによる ショート故障が懸念されていますがウィスカ評価の試験時間が長く、半導体実装基板での評価事例は少ないため、ウィスカ発生モードやメカニズムの解明は十分には成されていません。そこで技術的課題となっているウィスカ評価の時間短縮できる可能性についてQFP実装基板で検討した内容を報告します。

Topics   共同開発報告




<熱サイクル試験の加速試験方法の開発>
日本電気制御機器工業会(NECA)にてプロジェクト化した「高信頼性電子デバイス生産システムの研究開発」が平成18年度の経済産業省地域新生コンソーシアムの研究開発事業として採択され、弊社を含めたコンソーシアム参加企業・大学によって、温度変化率の高速化による時間短縮と加速性理論の検証が行われました。

<試験ハンドブック>
HAST (Highly-Accelerated Temprature and Humidity Stress Test)の目的は,試験槽内の水蒸気圧力を供試品の内部の水蒸気分圧よりも極端に高めることにより,供試品内部への水分の侵入を時間的に加速することで,その耐湿性を評価します.しかしHASTの相対湿度は、恒温恒湿器の相対湿度の定義と異なりますので注意いただく必要があります。ここでは、HASTの規格、制御方法、相対湿度の定義について解説しています。


 
 

<加速試験の理論>

「加速試験と信頼性へのガイダンス」を更新しました。
電気・電子機器および部品を例に、加速試験の概要と考え方についてわかりやすく解説します。





受託試験紹介
 
<大容量の環境試験器>

太陽電池パネルをそのまま試験したい、大型化する自動車部品を試験をしたいなど、今までサイズや重量的に無理があった比較的大きな供試品の環境試験に対応できる恒温恒湿試験器を設置しています。 500、1000リッターの大型冷熱衝撃試験器もあります。

 


 


  <試験設備を新規導入>
試験所ではご依頼いただく試験に幅広く対応するため、新たな試験設備を順次導入しています。 今年度は宇都宮試験所に塩水噴霧試験器、防塵・耐塵試験器の導入を行っています。

  (塩水噴霧試験)
     
  (防じん試験)


Topics  
プリント基板の試験と評価 イオンマイグレーション現象とその対策
プリント基板の試験と評価 イオンマイグレーション現象とその対策


<熱サイクル試験の加速試験方法の開発>
本書は、技術継承が困難なイオンマイグレーション現象に主題を絞った世界的にも稀な書であると言えます。電気学会においての過去10年以上の検討・調査結果をベースにしていますので、現場技術者を対象に、手引書的な内容になっています。実用的なデータ・資料が豊富でおよそ必要な情報は網羅されている感があります。

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