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表面絶縁抵抗(イオンマイグレーション)評価用櫛型基板
基本機能の信頼性評価に的を絞った試験の場合、製品そのものを評価するのではなく、対象とする機能のみで構成されたテストサンプルを評価することが望まれます。機能を限定することで、高精度な計測で特性変化を調べることができ、設計パラメータの影響を詳細に調べることができます。そのため信頼性試験方法として環境試験中の連続測定が普及してきました。特に研究開発や設計評価の目的でよく行われています。ここでは実装信頼性を目的に規格などに紹介されている代表的な事例を挙げています。
表面絶縁抵抗 (イオンマイグレーション)評価用 櫛型基板
表面絶縁抵抗 (イオンマイグレーション)評価用 フレキシブル基板
CAF評価 (詳細はIPC TM650 2.6.25参照) ※CAFとは
スルーホール評価用
はんだ接合 評価用 (チップ部品)
はんだ接合 評価用 (上段:QFP、下段:BGA)
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