Test Navi Report

エスペック技術情報
『Test Navi Report』 最新号 No.37 (通巻107号)

HALTにおけるストレスの効果(ランダム振動試験および温度サイクル試験との比較)

エスペック株式会社
事業開発部 ピエ ラファエル   開発本部 平田 拓哉
テストコンサルティング本部 河合 秀己    開発本部 青木 雄一


 HALT(Highly Accelerated Limit Test)は、厳しいストレスを与え、短時間で製品の相対的な弱点を検出する加速試験である。
 本報では、アルミ電解コンデンサー実装基板を用い、従来のランダム振動試験を実施した。この試験結果をHALTの振動ステップ試験と比較し、故障モードの差異や類似性について検討した。その結果、HALTでは、従来の信頼性試験で確認できなかった弱点を短時間で検出した。
 また、表面実装部品を対象にHALTと温度サイクル試験の相関性について比較検討した結果についても報告する。
 なお、本文の内容は日本信頼性学会 2017年11月第30回秋季信頼性シンポジウム「HALTにおけるストレスの効果その3 従来信頼性試験との比較」及び、2018年6月第26回春季信頼性シンポジウム「HALTにおけるストレスの効果その4ランダム振動試験との比較」の内容を追記、再構成したものである。
 


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