Test Navi Report

エスペック技術情報
『Test Navi Report』 最新号 No.28 (通巻87号)

電子回路の耐用寿命推定の考え方

M.A 信頼性技術オフィス 代表 本山 晃


昨今の電子応用商品の短寿命問題に関して、今回改めて電子回路の耐用寿命を予測する方法を事例を挙げて解説した。
具体的にはまず寿命予測のためのステップを図示した。最初に顧客の期待寿命(使用時間)に対する許容の累積故障確率即ち寿命目標値を設定した。
次に電子回路に搭載している電子部品の中で目標値を下回るもの、或いは同程度の部品を机上で推定した。推定には予め保有している各故障モード毎の加速式を用いて行った。ここで、抽出された短寿命と推定された部品に対して、改めて加速寿命試験を行い寿命予測を行った。今回はフィルムコンデンサを事例に浸入した湿気による水分と印加電圧による電極(フィルムの上の蒸着電極)の陽極酸化で容量が低下する事象をアイリングモデル式を用いて寿命を予測した。
最終的に、抽出した電子部品の寿命予測結果とはんだ接続部および基板の寿命予測結果を合わせて電子回路の寿命予測を行った結果、寿命目標値に到達しない炭素皮膜抵抗をメタルグレーズ皮膜抵抗に変更して目標値をクリアできた。


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